ZXVLF-YJS系列超低頻介損高壓發(fā)生器
用于絕緣等值電容較大的電氣設(shè)備耐壓試驗
參考標(biāo)準(zhǔn)：《超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)條件 DL/T849.4-2004》
●技術(shù)先進(jìn)：采用數(shù)字變頻技術(shù)，微電腦控制，升壓、降壓、測量、保護(hù)等測試過程全自動化
●安全可靠：控制器和高壓發(fā)生器低壓連接，光電控制，使用安全可靠
●配置齊全：電容觸摸屏，液晶漢字顯示，自動存儲，自動打印
說明書
操作視頻ZXVLF-YJS系列超低頻介損高壓發(fā)生器電氣設(shè)備的高壓耐壓試驗是《絕緣預(yù)防性試驗》規(guī)定的最重要項目之一。耐壓試驗可分為交流耐壓試驗和直流耐壓試驗，交流耐壓試驗又可分為工頻、變頻和0.1Hz超低頻介損測試技術(shù)，其中0.1Hz超低頻介損技術(shù)是最新技術(shù)，是當(dāng)前國際電工委員會推薦的技術(shù)。我公司新一代本系列超低頻介損高壓發(fā)生器是采用最新美國技術(shù)自主開發(fā)的核心產(chǎn)品，采用7英寸觸模屏、最新ARM7單片機(jī)、高速AD采集電路，并配有后臺管理軟件。它克服了國內(nèi)同類產(chǎn)品的諸多缺點(diǎn)（見表 1），性價比遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于同類進(jìn)口產(chǎn)品，特別適用于絕緣等值電容較大的電氣設(shè)備（例如：電力電纜、電力電容器、大中型發(fā)電機(jī)和電動機(jī)等）耐壓試驗，符合2004年國家新頒布電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)條件 DL/T849.4-2004》要求。
1. 技術(shù)先進(jìn)：采用數(shù)字變頻技術(shù)，微電腦控制，升壓、降壓、測量、保護(hù)等測試過程全自動化。
2. 設(shè)備操作：接線簡單，使用便捷。
3. 保護(hù)全面：多重保護(hù)（過壓保護(hù)、高低壓側(cè)過流保護(hù)），動作迅速（動作時間≤10ms）,儀器安全可靠。
4. 安全可靠：控制器和高壓發(fā)生器低壓連接，光電控制，使用安全可靠。
5. 采用了高低壓閉環(huán)負(fù)反饋控制電路，輸出無容升效應(yīng)。
6. 配置齊全：電容觸摸屏，液晶漢字顯示，自動存儲，自動打印。
7. 測試范圍大：0.1Hz、0.05Hz 、0.02Hz多頻率選擇，測試范圍大。
8. 中英文切換和USB功能。
電壓（峰值） | 0-80kv | |
靈敏度 | 0.1kV | |
精確度 | 1 % | |
波形 | 超低頻正弦波、直流電壓，電壓正，負(fù)峰值誤差 | ≤3％ |
電壓波形失真度 | ≤1％ | |
頻率范圍 | 0.1 Hz 0.05 Hz 0.02 Hz | |
負(fù)載范圍（超低頻測試） | 10nF–10μF | |
電流 | 測量范圍 | 0–70 mA |
靈敏度 | 1μA | |
精確度 | 1 % | |
介損 | 超低頻正弦波電壓范圍 | 1–80 kVrms |
負(fù)載范圍 | 50nF–5μF | |
分辨率 | 不低于1x10-6 | |
精確度 | 1x10-3–21000x10-3 | |
測量范圍 | 0.1Hz | |
介損測量頻率 | 50nF-5μF | |
電容量范圍 | 50nF-5μF | |
電阻值范圍 | 30MΩ-10GΩ | |
體積 | 48cm*28cm*58cm | |
重量 | 45kg | |
使用條件 | 戶內(nèi)、戶外溫度 | -10℃～+40℃ |
濕度 | ≤85％RH | |
電源 | 頻率 | 50Hz,60hz |
電壓 | 100v -260V±5% | |
通信口 | usb | |
電源 | 電壓 220V±5%，50±5Hz | |
ZXVLF-YJS系列選型表 | |
型號 | 規(guī)格 |
ZXVLF-YJS3 | 電壓0-30kV，超低頻正弦波電壓范圍1–30kVrms |
ZXVLF-YJS38 | 電壓0-80kV，超低頻正弦波電壓范圍1–80kVrms |
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